Сканирующие туннельные микроскопы доклад

glychamsdist75

Электронная оптическая схема. Если у вас возникли замечания или предложения, пишите по адресу info rusnano. Именно благодаря своей чрезвычайно высокой чувствительности СТМ способен формировать изображения поверхностей с субангстремной точностью по вертикали и атомным латеральным то есть в горизонтальном направлении разрешением. Отсюда вытекает важный для практического применения принцип работы СТМ: для работы сканирующего туннельного микроскопа вовсе не требуется высокий вакуум, как для электронных микроскопов других типов. Метод является также одной из технологий, позволяющих создавать на поверхности вещества материала искусственные наноструктуры путем перемещения отдельных атомов.

Реферат на тему мона лиза как музейный экспонат64 %
Выравнивание реферата по госту86 %

Иглы-зонды обычно изготавливают из металлической проволоки например, W, Pt—Ir, Au. Процедура подготовки атомарно острой иглы включает в себя предварительную обработку иглы ex situ такую, как механическая полировка, скол или электрохимическое травление и последующую обработку in situ в сверхвысоковакуумной СВВ камере.

Экспоненциальная зависимость туннельного тока от расстояния придает СТМ очень высокую чувствительность: считается, что с помощью туннелирования можно измерять объекты порядка 0, нм. Пьезоэлектрические устройства подводят иглу-зонд к поверхности исследуемого электропроводящего объекта. Подставив расчётные параметры в уравнение 1 , получим ориентировочные значения туннельного тока:.

Острая игла микроскопа помещается настолько близко к исследуемой поверхности, что волновые функции наиболее близкого атома иглы и атомов поверхности образца перекрываются.

Это условие выполняется при величине промежутка игла-образец 0,5—2,0 нм. Если приложить напряжение между иглой и образцом, то через промежуток потечет туннельный ток. Вертикальное перемещение зонда для сохранения расстояния L прямо отражает рельеф поверхности образца.

1872526

Окружающая среда влияет только на чистоту исследуемой поверхности, определяя химический состав адсорбционных слоёв и окисление её активными газами атмосферы. Отсюда вытекает важный для практического применения принцип работы СТМ: для работы сканирующего туннельного микроскопа вовсе не требуется высокий вакуум, как для электронных микроскопов других типов.

Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа поясняется видеороликами:.

Сканирующие туннельные микроскопы доклад 8518

Предыдущий раздел. Раздел верхнего уровня.

Материал из Википедии — свободной энциклопедии. Сканирующая зондовая микроскопия.

Сканирующие туннельные микроскопы доклад 6847589

Категории : Микроскопы Физика поверхности. Пространства имён Статья Обсуждение. Просмотры Читать Править Править код История.

Предыдущий раздел. Устройство микроскопа. Отправить сообщение разработчику сайта.

Экспоненциальная зависимость туннельного тока от расстояния придает СТМ очень высокую чувствительность: считается, что с помощью туннелирования можно измерять объекты порядка 0, нм. Основное приложение СТМ — это измерения топографии.

Сканирующий туннельный микроскоп

Именно благодаря своей чрезвычайно высокой чувствительности СТМ способен формировать изображения поверхностей с субангстремной точностью по вертикали и атомным латеральным то есть в горизонтальном направлении разрешением.

Существуют два варианта конструкции СТМ в зависимости от режима сканирования образцов рис. В режиме постоянной высоты острие иглы перемещается в горизонтальной плоскости над образцом, а ток туннелирования изменяется рис.

Сканирующие туннельные микроскопы доклад 8336

Исходя из данных о величинах тока туннелирования, измеренных в каждой точке сканирования поверхности образца, строится образ топографии. В режиме постоянного тока СТМ задействуется система обратной связи для поддержания постоянного тока туннелирования путем подстройки высоты раздробленность на руси устройства над поверхностью в каждой точке рис.

Электронная оптическая схема Обычный просвечивающий электронный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Принцип действия сканирующего туннельного микроскопа Классификация сканирующих туннельных микроскопов Схема работы сканирующего туннельного микроскопа Область применения сканирующих туннельных микроскопов Атомно-силовой микроскоп Принцип действия атомно-силового микроскопа.

Область применения атомно-силового микроскопа Микроскопия Световая микроскопия Методы световой микроскопии Метод светлого поля и его разновидности Метод темного поля и его разновидности Поляризационная микроскопия Метод фазового контраста Метод интерференционного контраста Метод исследования в свете люминесценции Метод наблюдения в ультрафиолетовых лучах Метод наблюдения в инфракрасных лучах Микрофотографирование и микрокиносъёмка Электронная микроскопия Методика электронной микроскопии.

Область применения электронной микроскопии Методы электронной микроскопии Метод реплик Метод сканирующие туннельные микроскопы доклад Амплитудная электронная микроскопия Фазовая электронная микроскопия Лоренцова электронная микроскопия Количественная электронная микроскопия Иммуноэлектронная микроскопия.

Наномир. Сканирующий туннельный микроскоп.

Доска объявлений. Полезные сайты.